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Mengfan Zhang1, Weifeng Liu1, Linqing He1
1School of Electrical and Control Engineering, Shaanxi University of Science and Technology, Xi'an 710016, China.
这项研究引入了一种新的基于扩散的平板电脑缺陷检测 (DTDD) 方法. DTDD通过改进重建和精确定位缺陷来增强平板电脑异常检测,优于现有方法.
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主要成果:
结论: