扫描电子显微镜分析微导管内膜损伤和线圈栓塞中的血栓形成

科学领域:

• 干预性神经放射学 干预性神经放射学
• 生物材料科学 生物材料科学
• 医疗设备工程 医疗设备工程

背景情况:

• 线圈栓塞是内动脉瘤的关键治疗方法.
• 尽管技术进步,缺血性并发症仍然是一个重大问题.
• 微导管相关的血栓形成是这些并发症的已知贡献者.

研究的目的:

• 调查微导管内变化对缺血事件的影响.
• 用扫描电子显微镜 (SEM) 分析微导管内表面在栓塞后的形态变化.

主要方法:

• 在使用后对5个SL-10,2个Phenom 17和1个Echelon 10微导管进行SEM分析.
• 与未使用的微导管作为对照对比.
• 微导管横截面的高放大检查.

主要成果:

• 在SEM中,使用过的微导管中发现了显著的内损伤 (剥离,裂),光显微镜无法看到.
• 损坏严重程度与线圈交付次数相关.
• 在受损的微导管内观察到红细胞凝块.
• 在不同的微导管模型中观察到类似的损伤模式.

结论:

• 在线圈栓塞中重复使用微导管会导致内膜损伤.
• 这种损伤可能会促进血栓形成和随后的缺血并发症.
• 进一步研究微导管的耐用性和血栓阻力对于降低风险至关重要.