耳植入和面部神经刺激:临床和解剖相关性
Karin Hallin1, Sumit Agrawal2,3,4, Hanif M Ladak2,3,4
1Department of Surgical Sciences, Otorhinolaryngology and Head and Neck Surgery, Uppsala University, Uppsala, Sweden.
The Laryngoscope
|September 17, 2025
概括
耳植入后面部神经刺激 (FNS) 与电极插入深度有关,而不是电极类型. 面部神经通道非常靠近耳,增加FNS风险.
科学领域:
- 耳鼻喉科 耳鼻喉科 耳鼻喉科
- 神经外科 神经外科
- 医疗成像医学成像
背景情况:
- 面部神经刺激 (FNS) 是耳植入 (CI) 的罕见并发症.
- 了解面部神经通道 (FNC) 和带之间的解剖关系对于减轻FNS至关重要.
- 电极设计和放置是影响FNS发生的潜在因素.
研究的目的:
- 分析与FNS相关的电极接触者的位置和插入深度.
- 为了研究人类FNC与尾有关的解剖学变异.
- 阐明在CI患者中FNS背后的机制.
主要方法:
- 从307名成年CI患者的医疗记录的回顾性审查.
- 从人类骨中分析微计算机断层扫描 (CT) 扫描 (n=246) 和同步辐射相对比成像 (SR-PCI) 数据 (n=83).
- 使用乌普萨拉人类骨图书馆进行解剖结构的三维 (3D) 重建和分析.
主要成果:
- 在5.8%的患者中发生FNS (19/307).
- 在侧面壁 (LW) 和周边壁 (PM) 电极之间没有观察到FNS速率的显著差异.
- 250°至340°角插入深度之间的电极接触与FNS相关.
- 带和FNC之间的平均距离为0.3毫米,最接近FNC的位置从253°到304°.
结论:
- 面部神经的迷宫部分在解剖学上接近尾,增加对刺激的敏感性.
- FNS可以发生在LW和PM电极中,主要与特定的插入深度有关.
- 在FNC和尾之间骨隔壁的脱落可能会导致FNS.


