软X射线衍射异常细结构光谱学应用于研究PbSc0.5Nb0.5O3放松剂铁电氧化物

G Ciatto1, Y Bing2, Z G Ye2

  • 1Synchrotron SOLEIL, L'Orme des Merisiers, Saint-Aubin, BP 48, F-91192 Gif sur Yvette Cedex, France.

PubMed
概括

这项研究将衍射异常细结构 (DAFS) 光谱扩展到温和的X射线,使功能材料的局部结构分析成为可能. 研究人员成功地将这种技术应用于放松剂铁电氧化物中的L边缘.