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Updated: Jan 17, 2026

06:48
A Multimodal Wide-Field Fourier-Transform Raman Microscope
Published on: December 30, 2025
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基于集成的近红外光谱传感器和CMOS摄像机的空间和光谱分辨率的材料传感
Ben Delaney1, Sjors Buntinx1, Don M J van Elst1
1Department of Applied Physics, Eindhoven Hendrik Casimir Institute, Eindhoven University of Technology, P.O. Box 513NL, 5600 MB Eindhoven, The Netherlands.
Sensors (Basel, Switzerland)
|September 19, 2025
概括
这项研究引入了一种新的对峙材料传感系统. 它将可见成像与目标近红外 (NIR) 光谱测量相结合,用于有效的化学表征,用于回收过程中塑料的分类.
科学领域:
- 频谱学是一种光谱学.
- 材料科学 是一种材料科学.
- 遥感 遥感 遥感 遥感
背景情况:
- 材料组成分析对于工业监测,回收,农业和环境应用至关重要.
- 光谱成像提供了综合空间和光谱数据,但面临成本障碍,特别是近红外 (NIR) 应用,由于昂贵的探测器阵列.
- 现有的可见多光谱成像 (MSI) 解决方案由于可用探测器而具有成本效益.
研究的目的:
- 开发一个具有成本效益的对峙材料传感系统,弥合NIR光谱成像中的差距.
- 为了使材料在没有全谱成像硬件的情况下进行化学表征.
- 为了证明系统在实际应用中的实用性,例如塑料分类.
主要方法:
- 这是一个新的概念,它结合了使用CMOS相机在可见光谱中的空间成像与基于点的NIR光谱测量.
- 使用专用NIR光谱传感器进行有针对性的光谱数据采集.
- 实现系统在一个对峙配置用于非接触材料分析.
主要成果:
- 该系统成功地进行了远程材料的化学表征.
- 在对峙设置中,在不同类型的视觉相同塑料的分类方面表现出能力.
- 能够在一个场景内的多达100个不同的点进行光谱测量.
结论:
- 开发的系统为传统的光谱成像提供了可行的替代方案,用于对立物质传感.
- 这种方法可以降低与NIR光谱成像相关的硬件成本.
- 该技术显示出在回收和工业过程监控方面的应用潜力很大.

