LEEMEELS:

Vincent Lemelin1, Richard Martel1

  • 1Département de Chimie et Institut Courtois, Université de Montréal, H3C 3J7, Montréal, Québec, Canada.

Ultramicroscopy
|September 20, 2025
PubMed
概括

研究人员建议整合两个半球衍射分析仪 (HDA),以提高偏差校正低能电子显微镜 (AC-LEEM) 的能量分辨率. 这种双HDA系统旨在将高空间和能量分辨率结合起来,用于先进的材料分析.