在光谱域光学连贯性断层扫描中使用子容器将光谱泄漏到深度配置文件的实用性
Applied optics
|September 22, 2025
概括
我们介绍了一种振幅信号噪声比率 (A-SNR) 方法,用于光谱域光学连贯性断层扫描 (SD-OCT). 这种技术提高了深度分辨率,使得能够精确测量小位移.
科学领域:
- 生物医学光学 生物医学光学
- 光学计量学 在光学计量学
- 医学成像技术 医学成像技术
背景情况:
- 光谱域光连贯性断层扫描 (SD-OCT) 是一个关键的成像模式.
- 传统的SD-OCT方法在深度分辨率和灵敏度方面存在局限性.
- 使用光谱泄漏元件仍然是信号增强的未经探索的领域.
研究的目的:
- 提出并验证一种新的振幅信号噪声比率 (A-SNR) 方法.
- 为了利用子容器 (SB) 中的光谱泄漏组件,在SD-OCT中改进深度分析.
- 为了证明增强的位移测量能力.
主要方法:
- 通过将传统的 bin 间隔划分为 sub-bins (SB) 来开发 A-SNR 方法.
- 在SB条件下理论推导振幅和SNR.
- 使用SD-OCT与0.8μm SLD进行实验验证,与传统方法进行比较.
主要成果:
- 拟议的A-SNR方法有效地利用了光谱泄漏组件.
- 在SB条件下,模拟证实了对振幅和SNR的理论预测.
- 实验结果表明,能够测量2-3μm的位移,常规深度分辨率为19.1μm.
结论:
- A-SNR方法为SD-OCT提供了显著的深度分辨率改进.
- 这种技术可以精确测量微分位移,扩大SD-OCT应用.
- 该方法对各种需要高分辨率深度分析的生物医学和计量应用具有前景.


