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Shuo Zhu1, Qianfeng Yin2,3, Chutian Wang1
1Department of Electrical and Electronic Engineering, The University of Hong Kong, Pokfulam, Hong Kong SAR, 999077, China.
计算神经形态成像 (CNI) 为制造业提供超快,高动态范围的表面缺陷检查. 这种基于事件的传感器方法克服了传统摄像机的局限性,在具有挑战性的工业环境中实现实时诊断.
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