Magnetostatic Boundary Conditions
Atomic Force Microscopy
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Ruofan Li1,2, Shuo Sun1,3,2, Jiahao Zhang1,2
1School of Instrumentation and Optoelectronic Engineering, Beihang University, Beijing, China.
这项研究介绍了一种使用元表面的紧型光学原子磁计 (OPM). 这种新的设计实现了高灵敏度,克服了先进量子传感应用中传统OPM的局限性.
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