Scanning Electron Microscopy
Preparation of Samples for Electron Microscopy
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Luca Rettenberger1, Nathan J Szymanski2, Andrea Giunto3
1Institute for Automation and Applied Informatics, Karlsruhe Institute of Technology, Eggenstein-Leopoldshafen, Germany.
使用ConvNeXtV2模型的自我监督学习 (SSL) 显著改善了扫描电子显微镜 (SEM) 图像中的粒子检测. 这种自动化将分析错误减少多达34%,加速材料科学发现.
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主要成果:
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