β-Ga2O3/4H-SiC:

Jiaren Feng1, Qingzhong Gui2, Taiqiao Liu1

  • 1School of Integrated Circuits, Wuhan University, Wuhan 430072, China.

概括

这项研究揭示了氧化/碳化异质连接中的晶体方向如何影响电子特性. 了解这些接口特征是设计先进的电子设备,如光探测器的关键.