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Melanie A Brunet1, Brittney L Gorman2, Mary L Kraft1,2
1Department of Chemical and Biomolecular Engineering, University of Illinois Urbana-Champaign, Champaign, IL 61801, USA.
本研究介绍了一种方法来纠正细胞的二次离子质谱 (TOF-SIMS) 图像的3D深度分析时间的z轴扭曲. 精确的3D TOF-SIMS对ER-PM结节等细胞结构的成像现在是可能的.
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