Overview of Microscopy Techniques
Atomic Force Microscopy
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Mariusz Mączka1, Maciej Kusy1, Anna Szlachta2
1Department of Electronics Fundamentals, Rzeszow University of Technology, 35-959 Rzeszow, Poland.
这项研究引入了一种新的方法,可以从数字图像中创建导电表面的3D模型. 它通过使用先进的图像处理和重建技术来提高材料表面表示质量.
10:27The Evolution of Silica Nanoparticle-polyester Coatings on Surfaces Exposed to Sunlight
Published on: October 11, 2016
07:57Scaled Anatomical Model Creation of Biomedical Tomographic Imaging Data and Associated Labels for Subsequent Sub-surface Laser Engraving SSLE of Glass Crystals
Published on: April 25, 2017
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