激光线宽测量技术的进步:全面审查
Zhongtian Liu1,2,3, Hao Zheng1,2, Chunwei Li1,2
1Center for Advanced Laser Technology, School of Electronics and Information Engineering, Hebei University of Technology, Tianjin 300401, China.
Micromachines
|September 27, 2025
概括
精确的激光线宽测量对于先进的应用至关重要. 本综述涵盖了宽 (GHz) 到超窄 (sub-Hz) 线宽的技术,有助于激光器的开发和表征.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 激光物理 激光物理
- 计量学 计量学 计量学
背景情况:
- 激光线宽是定义光谱特征的关键参数.
- 准确的线宽测量对于各种先进的激光应用非常重要.
- 现有的技术涵盖了从GHz到次频率的广泛范围.
研究的目的:
- 系统地审查激光线宽测量技术的最新进展.
- 为激光开发和表征提供全面的技术参考.
- 为了比较宽线和窄线宽激光器的方法.
主要方法:
- 对宽线宽度的直接光谱测量和Fabry-Pérot干涉测量的审查.
- 对狭窄线宽的光学敲击方法的详细分析.
- 功率光谱密度 (PSD) 分析和节拍信号相位噪声评估的比较.
主要成果:
- 宽线宽度的既定技术包括光谱仪和干扰仪.
- 光学敲击,PSD分析和阶段噪声评估是狭窄线宽的关键.
- 研究了超高精度线宽计量学的最新创新.
结论:
- 该审查提供了对技术的比较评估,包括原则,配置,分辨率和限制.
- 它是了解和应用各种激光线宽测量方法的宝贵资源.
- 内容支持激光器在不同频谱范围的开发,表征和应用.
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