线

Adrien A Guth1, Sakirudeen Abdulsalaam2,3, Holger Rauhut2,3

  • 1Institute of High Frequency Technology, RWTH Aachen University, 52074 Aachen, Germany.

Sensors (Basel, Switzerland)
|September 27, 2025
PubMed
概括

本研究介绍了一种基于面具的方法,可以从仅振幅的近场数据中恢复天线辐射模式. 这种方法提高了天线测量的相位检索精度.