入纳米机械探针用于超低体积液体悬浮中纳米粒子的质量表征

Juan Molina1, Javier E Escobar1, Priscila M Kosaka1

  • 1Instituto de Micro y Nanotecnología, IMN-CNM, CSIC (CEI UAM+CSIC), Isaac Newton 8, Tres Cantos, Madrid, 28760, Spain.

概括

一个新的入纳米机械探头精确地称重液体悬浮中的纳米粒子. 这种高分辨率,高通量方法推进了用于各种应用的纳米粒子质量表征.

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