X线

Christoph Genzel1, Daniel Apel1, Mirko Boin1

  • 1Department of Microstructure and Residual Stress Analysis Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie Germany.

Journal of applied crystallography
|October 9, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一种针对多晶材料的新型X射线应力分析方法. 它使用两个探测器来测量表面和更深的区域的应力,增强材料的特征.