不对称的插入深度可能会阻碍学术能力在语言前耳道植入物儿童儿童
Ofir Zavdy1,2, Tally Greenstein2,3, Meirav Sokolov1,2
1Departments of Otolaryngology, Head and Neck Surgery, Rabin Medical Center and Pediatric Otolaryngology, Schneider Children's Medical Center, Petach Tikva.
概括
双侧耳植入物 (CI) 插入深度的显著不对称性会对儿童的听力表现和教育成果产生负面影响. 更大的不对称性增加了需要特殊教育计划的可能性.
科学领域:
- 听力学 听力学是指听力学.
- 儿科耳鼻喉科 儿科耳鼻喉科
- 神经科学是一个神经科学.
背景情况:
- 双边耳植入物 (CI) 可以改善听力,但结果各不相同.
- 电极插入深度不对称 (aDOI) 可以影响双耳处理.
- 在前语言儿童中aDOI的长期影响尚未完全理解.
研究的目的:
- 评估不对称的CI电极插入深度 (aDOI) 对听觉表现,语音发展和学术能力的长期影响.
- 为了确定aDOI对教育安置的影响.
主要方法:
- 对34名双边同时CI的前语言儿童进行了回顾性纵向队列研究.
- 在手术内进行X射线分析,以测量电极插入深度和不对称性 (aDOI).
- 评估听觉表现 (CAP分数),语音可理解性 (SIR分数) 和学术能力 (教育安置).
主要成果:
- 更深的电极插入与更好的听觉性能类别 (CAP) 评分相关.
- 特殊需要/辅助教育课程的儿童与一般课程 (29.5±2°) 的儿童相比,表现出更高的aDOI (55.7±3°).
- 超过40度的不对称性使得需要辅助教育计划的可能性增加了六倍.
结论:
- 在CI插入深度的40度或更大的不对称性与较差的教育成果和增加对特殊教育支持的需求有关.
- 仔细的手术规划以尽量减少耳间差异对于优化双耳听力和教育前景至关重要.
- 更深的CI插入 (aDOI ≥400°) 与功能性听力学结果的改善有关 (CAP得分≥6).
