X-ray Imaging
X-ray Crystallography
Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Computed Tomography
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Jiaqi Li1, Jianheng Huang1, Xin Liu1
1Key Laboratory of Optoelectronic Devices and Systems of Ministry of Education and Guangdong Province, College of Physics and Optoelectronic Engineering, Shenzhen University, Shenzhen 518060, China.
这项研究引入了一种新的X射线相位对比成像系统,可以增强软组织和弱材料的对比度. 光束跟踪方法可以改善成像应用中的细节恢复和结构分析.
科学领域:
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研究的目的:
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主要成果:
结论: