Transmission Electron Microscopy
Fatigue
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Andrew Baker1, Kyle R Dorman2, Khalid Hattar3
1Center for Integrated Nanotechnologies, Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM, 87123, USA.
研究人员开发了一种新的方法来控制疲劳裂在现场传输电子显微镜 (TEM) 实验中的裂生长. 这种定量方法允许详细观察各种材料和设备中的纳米尺度疲劳机制.
科学领域:
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研究的目的:
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主要成果:
结论: