早期故障风险和先进生物技术电极设备的长期结果 召回后的电极设备
Kalena Liu1, Lauren O'Brien1, Dan Campbell1
1Department of Otolaryngology-Head and Neck Surgery, Thomas Jefferson University, Philadelphia, Pennsylvania, USA.
概括
先进的生物技术耳植入器失败通常发生在5年内. 在此期间之后,电极故障的风险显著降低,这表明患者的长期设备稳定性.
科学领域:
- 耳鼻喉科 耳鼻喉科 耳鼻喉科
- 生物医学工程 生物医学工程
- 医疗器械技术 医疗器械技术
背景情况:
- 耳植入物对于恢复听力至关重要.
- 在先进生物技术 (AB) 耳植入物中,电极故障需要修复手术.
- 在HiRes Ultra和Ultra 3D召回之后,了解故障趋势至关重要.
研究的目的:
- 描述AB耳植入物中电极故障的时间和可能性.
- 评估在2020年召回特定AB模型后的长期故障趋势.
- 为了评估累积失败风险随着时间的推移.
主要方法:
- 在一个单一的高等学术医疗中心进行回顾性队列研究.
- 用AB HiRes Ultra或Ultra 3D植入器的患者的图表审查 (2014年1月 - 2020年2月).
- 卡普兰-梅尔生存分析以建模累积失败风险.
主要成果:
- 在140个植入物中,有17.1%的植入物出现了设备故障.
- 中位时间到故障为3.6年; 95%的故障发生在5.9年内.
- 在5年后,失败风险降至每年2.1%,没有人口统计学关联.
结论:
- AB耳植入器的失败主要发生在植入后的前5年内.
- 失败的风险在5年后显著减少.
- 这些发现支持设备的长期稳定性,并为患者的咨询和随访提供信息.
