与静脉输入心脏植入式电子设备相关的并发症:识别和管理:叙述性审查
Peter J Zimetbaum1, Enrico G Ferro1, Eric A Secemsky1
1Division of Cardiovascular Medicine, Beth Israel Deaconess Medical Center, Harvard Medical School, Boston; and Richard A. and Susan F. Smith Center for Outcomes Research, Beth Israel Deaconess Medical Center and Harvard Medical School, Boston, Massachusetts (P.J.Z., E.G.F., E.A.S., D.B.K.).
心脏植入式电子器件 (CIED) 是常见的,但诸如衰竭,感染,静脉阻塞和三回等并发症需要及时管理. 早期识别和多学科护理是最佳患者治疗结果的关键.
科学领域:
- 心脏病学 心脏病学
- 医疗器械 医疗器械
- 临床医学 临床医学
背景情况:
- 心脏植入式电子设备 (CIED) 显著提高了患者的质量和寿命.
- 在CIED使用的指数增长需要全面了解设备相关的并发症.
研究的目的:
- 为一般内科医生和医院医生提供四种最常见的CIED并发症的最新审查.
- 展示管理CIED并发症及其预期结果的最新证据.
主要方法:
- 关于CIED并发症的当前文献的审查.
- 专注于发生率,临床表现和生成器/失效的管理策略,CIED感染,相关的静脉阻塞和相关的三回.
主要成果:
- 发电机/导电机故障发生率为每年<1%,以保守的方式管理.
- 在CIED感染 (大约. 1%每年) 的死亡率很高 (10-20%),通常需要取.
- 与相关的静脉阻塞 (5-30%) 具有可变的管理,往往没有最佳结果.
- 与相关的三吐 (20-30%) 是一个新兴的领域,需要关于提取与监禁的证据.
结论:
- 虽然无设备可以减少并发症,但对现有CIED问题的最佳管理需要多学科的团队方法.
- 迅速识别和治疗CIED并发症至关重要,以不断发展的证据和专业专业知识为指导.
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