超导Sn间接TaSe:结构多样性被常规表征技术所掩盖

Brenna C Bierman1, Gillian Nolan2, Hongrui Ma3

  • 1Department of Chemistry, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin 53706, United States.

概括

通过单晶X射线衍射 (SCXRD) 和扫描传输电子显微镜 (STEM) 等先进技术,发现了间化 (SnxTaSe2) 的结构异质性. 常规方法未能检测到这种多样性,强调需要对分层材料进行高分辨率的表征.