使X线

Tang Li1, Ken Vidar Falch2, Jan Garrevoet2

  • 1Centre for X-ray and Nano Science, Deutsches Elektronen-Synchrotron, Hamburg 22607.

概括

研究人员开发了一种新的X射线成像方法,用于高灵敏度的纳米级材料成像. 这种技术克服了大型样本的局限性,使得在现场/操作研究中更快,更高精度的扫描成为可能.