SiC线

Jiamu Xiao1, Heng Xie2, Shougang Du1

  • 1Wide Bandgap Semiconductor Technology Disciplines State Key Laboratory, Xidian University, Xi'an 710071, China.

Micromachines
|October 29, 2025
PubMed
概括

这项研究模拟了使用Geant4.4在碳化物 (SiC) 斯科特基二极管中的能量沉积. 它揭示了粒子类型,能量和入射角度如何影响线性能量转移 (LET),这对设备可靠性至关重要.