在现场自光成像揭示了在多相聚合物中对电树的界面封闭效应

科学领域:

• 多相聚合物接口科学 多相聚合物接口科学
• 电气绝缘材料 电气绝缘材料

背景情况:

• 电气损坏树木是绝缘可靠性的关键挑战.
• 当前技术的空间分辨率有限,阻碍了接口电树的3D可视化.

研究的目的:

• 开发一种用于在现场3D可视化聚合物中的电树的方法.
• 研究界面电树的进化和故障机制.

主要方法:

• 在电树损坏区域内观察非光聚合物 (XLPE,SIR) 的自发光.
• 同焦点扫描显微镜用于纳米级3D成像和实时监测电树.
• 分析分子变化 (π-π* 结合,循环素寡合体) 和它们对能量差距 (ΔE) 的影响.

主要成果:

• 自动光被成功地用于3D成像的电树没有外源的探头.
• 分子变化 (减少的DE) 在受损的聚合物区域中增强了自发光强度.
• 在XLPE中,界面封闭效应会影响电树的传播,促进横向扩张.

结论:

• 开发的自光成像方法为电树的3D可视化提供纳米分辨率.
• 该技术提供了一个非破坏性评估平台,用于研究多相绝缘系统中的界面故障机制.
• 了解电树的演变对于提高绝缘可靠性至关重要.