高纯银微量元素分析的方法验证和不确定性评估由ICP-OES进行
Dinesh Singh1, V N Singh1, S P Singh1
1Academy of Scientific & Innovative Research (AcSIR), Ghaziabad, 201002, India; Bharatiya Nirdeshak Dravya Division, CSIR-National Physical Laboratory, New Delhi, 110012, India.
在高纯度银中精确量化铜,铁和等微量元素至关重要. 使用ICP-OES的标准加法 (SAM) 和矩阵匹配的外部标准方法 (MMESM) 提供了可靠的结果,考虑了矩阵效应.
科学领域:
- 分析化学 分析化学
- 材料科学 材料科学 材料科学
背景情况:
- 高纯度的银对于电子和光学至关重要,因为微量杂质会严重影响性能.
- 由于矩阵效应,在银中量化微量元素 (Cu,Pb,Fe) 存在分析挑战.
研究的目的:
- 为了比较标准加法 (SAM) 和矩阵匹配外部标准法 (MMESM) 在高纯度银中微量元素量化.
- 评估与每个量化方法相关的不确定性.
- 讨论验证参数,包括LOD,LOQ,准确性和精度.
主要方法:
- 使用了感应合等离子光学发射光谱法 (ICP-OES).
- 微量杂质 (Cu,Fe,Pb) 用SAM和MMESM进行量化.
- 评估了全面的不确定性评估和验证参数.
主要成果:
- SAM和MMESM都为银中的微量元素提供了可比且可靠的量化结果.
- 这两种方法都有效地弥补了矩阵效应,显示出良好的恢复率.
- 双向ANOVA证实了两种方法对Cu,Fe和Pb的确定具有统计学上相似的结果.
结论:
- SAM和MMESM都是高纯银微量元素分析的合适和可靠方法.
- 这些发现提供了适用于其他金属微量元素分析的全面理解.
- 内部标准校正对这两种方法的量化结果的影响最小.
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