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Dejin Zhao1, Rui Sun1, Tong Tong2,3
1College of Engineering, Yanbian University, Yanbian, 133002, China.
这项研究介绍了DC-Mamba,这是一种基于Mamba的改进方法,用于检测大光圈光学上的表面微缺陷. 它提高了缺陷分类的准确性,为智能光学系统维护提供了强大的解决方案.
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主要成果:
结论: