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1Philips Research, Prof. Holstlaan 4, 5656 AA Eindhoven, The Netherlands.
一个新的静电偏差校正器 (AC) 显著提高了低压扫描电子显微镜 (LV-SEM) 的图像质量. 这种易于使用的AC增强了分辨率和对比度,为材料和生命科学成像提供了卓越的性能.
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