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Updated: Jan 11, 2026
10:17
20 mJ, 1 ps Yb:YAG Thin-disk Regenerative Amplifier
Published on: July 12, 2017
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概括
一个新的电光热 (E-O-T) 模型准确地预测了垂直腔表面发射激光器 (VCSEL) 的性能. 热效应显著影响VCSEL,降低了在更高温度下刺激的排放效率.
科学领域:
- 光电学是指光电子产品.
- 半导体设备 半导体设备
- 热建模热建模 热建模
背景情况:
- 垂直腔表面发射激光器 (VCSEL) 对于高速光通信至关重要.
- 精确的建模对于优化VCSEL性能和可靠性至关重要.
- 热效应会降低VCSEL的性能,尤其是在高温下.
研究的目的:
- 开发和验证一个电光热 (E-O-T) 模型,用于高速的850nm氧化物封闭VCSEL.
- 调查温度对VCSEL静态和动态性能的影响.
- 分析各种物理参数对VCSEL特征的影响.
主要方法:
- 开发一个全面的EOT模型.
- 模拟静态性能 (P-I-V曲线) 和动态响应 (小信号和大信号调制).
- 模型的实验验证使用25°C和85°C的测量.
主要成果:
- E-O-T模型与实验P-I-V曲线,调制响应和眼睛图表有很好的一致性.
- 热效应导致载体解,并在85°C降低刺激排放效率,而25°C则降低.
- 内部电容和连接阻抗是决定调制带宽的关键因素.
结论:
- 开发的E-O-T模型是一个可靠的工具,用于预测在不同的热条件下VCSEL的性能.
- 热管理对于维护VCSEL的高速运行和效率至关重要.
- 了解热阻,载体运输,材料增益和腔损失之间的相互作用对于VCSEL设计至关重要.
