边缘照明X射线多对比成像系统的扫描操作,使用具有不均吸收结构的低成本面具

Optics express
|November 11, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一种新的边缘照明 (EI) X射线成像技术,使用样本扫描模式. 这种方法提高了视野和效率,克服了当前EI系统的局限性,用于更广泛的应用.