Electron Microscope Tomography and Single-particle Reconstruction
Overview of Microscopy Techniques
Overview of Electron Microscopy
X-ray Crystallography
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Stephanie M Ribet1, Rohan Dhall1, Colin Ophus2
1National Center for Electron Microscopy, Molecular Foundry, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, CA 94720, United States.
多角度前置电子衍射 (MAPED) 通过平均连续的4D-STEM扫描来增强材料属性映射. 这种方法改善了应变和方向测量,在各种显微镜和探测器中提供了灵活性.
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