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阶段阵列超声波测试W/EUROFER功能分级涂层的测试

Ashwini Kumar Mishra1, Jarir Aktaa1

  • 1Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Institute for Applied Materials, Hermann-von-Helmholtz-Platz 1, 76344 Eggenstein-Leopoldshafen, Germany.

Materials (Basel, Switzerland)
|November 13, 2025
PubMed
概括

一个新的阶段阵列超声波测试可靠地检测/EUROFER功能分级材料 (FGM) 涂层中的分层. 这种非破坏性的方法对核聚变应用中的小型和大型组件都有效.

科学领域:

  • 材料科学 材料科学 材料科学
  • 非破坏性测试 不破坏性测试
  • 核工程 核工程是指核工程.

背景情况:

  • /EUROFER功能分级材料 (FGM) 涂层是核聚变中的关键保护层.
  • 开发非破坏性测试 (NDT) 方法对于分析涂层完整性和检测分层是必不可少的.
  • 目前的方法可能缺乏复杂几何和接口所需的精度.

研究的目的:

  • 开发和验证一个阶段式阵列超声波测试 (PAUT) 方法,用于分析W/EUROFER FGM涂层接口.
  • 评估PAUT方法在小型平面和大型曲面组件中检测分层的能力.
  • 通过横截面图像分析来验证PAUT发现的准确性.

主要方法:

  • 阶段式阵列超声波测试 (PAUT) 系统的实施.
  • 在两种样品类型上进行测试:小型平面W/EUROFER FGM涂层样品和大型L形50%W/50%EUROFER涂层样品.
  • 使用横截面图像分析验证PAUT结果.

主要成果:

  • PAUT方法成功地在W/EUROFER FGM涂层中识别了两个不同的接口,但在平面样本中没有检测到分层.
  • PAUT精确地检测到大型L形涂层样本中人工创建的分层.
关键词:
在 W 涂层上.脱层检测检测 脱层检测检测非破坏性评价 - - 非破坏性评价.核聚变是核聚变的一种方式.阶段式阵列超声波测试试验

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  • 截面分析证实了PAUT检测分层的准确性.

    • 结论:

    • 阶段阵列超声波测试是一种可靠的无线探测方法,用于评估W/EUROFER FGM涂层中的接口特性.
    • PAUT技术有效地检测多层涂料的分层,在各种尺度和几何形状上,包括曲的部件.
    • 该方法为核聚变应用中的质量控制和完整性评估提供了一个有希望的解决方案.