通过卷对卷聚合物薄膜加工中侧对侧张力差异对卷错位的传感器高效估计
Junyoung Yun1, Sangbin Lee1, Jeongwon Jang1
1Department of Mechanical Design and Production Engineering, Konkuk University, 120 Neungdong-ro, Gwangjin-gu, Seoul 05023, Republic of Korea.
Polymers
|November 13, 2025
概括
本研究提出了一种新方法,通过分析张力差异来检测卷对卷 (R2R) 制造中的卷错位. 这简化了诊断,减少了对额外传感器的需求,并提高了聚合物膜质量.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 机械工程 机械工程
- 过程控制 过程控制
背景情况:
- 在卷对卷 (R2R) 工艺中,卷的错位会导致诸如横移和张力不平衡之类的缺陷.
- 现有的诊断方法通常需要复杂的校准和额外的传感器,限制实时应用.
研究的目的:
- 开发一种简化的诊断方法,用于在R2R系统中估计网络错位.
- 消除了复杂校准和额外传感器在错位检测的需要.
主要方法:
- 开发了一种方法来估计使用侧对侧张力差异的网状错位.
- 通过实验确定了张力失衡,横向位移和错位角度之间的相关性.
- 在各种过程条件和压力中验证了方法.
主要成果:
- 在没有额外的传感器的情况下,基于张力的方法可以准确地预测网状错位.
- 减少张力波动 ("狩猎") 提高了预测稳定性.
- 该方法在不同的错位和张力水平下证明了有效性.
结论:
- 拟议的基于张力的方法为R2R制造中诊断卷轴不对齐提供了切实可行的替代方案.
- 简化了对齐诊断,增强了流程设置和减少停机时间.
- 在连续制造中提高聚合物薄膜的均性.
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