Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of FET
Metal-Semiconductor Junctions
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Yuxuan Wu1,2,3, Ning Jiang1,2,3, Xiaojun Qiao1,2,3,4,5
1Science and Technology on Electronic Test and Measurement Laboratory, North University of China, Taiyuan 030051, China.
研究人员开发了一种用于神经形态计算的新型二维铁电装置. 该设备表现出16个稳定状态和高准确度的模式识别,推进内存计算能力.
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研究的目的:
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主要成果:
结论: