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Updated: May 2, 2026

Smartphone Fundus Photography
Published on: July 6, 2017
Jiaqi Li1,2, Huadiao Long1,2, Meiyan Liu1,2
1Department of Mechanical Engineering, Shantou University, 243 Daxue Road, Shantou, 515063, China.
本研究介绍了DY-YOLO,这是一个改进的YOLOv8模型,用于检测智能手机盖玻璃缺陷. 它通过减少由背景干扰引起的错误检测,提高了复杂制造环境中的准确性和效率.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: