FIB-SEM,使

Yicong Li1,2, Yuri Kreinin3, Siyu Huang4

  • 1John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences, Harvard University, 150 Western Avenue, 02134, MA, USA.

概括

我们开发了一种深度学习方法,以纠正因不均研磨而导致的聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 图像的扭曲. 这种无监督的方法可以提高生物组织分析的图像质量,而不需要地面真相数据.