单个元元表面的相位表征.
Yanel Tahmi1,2, Matthieu Ansquer2, Pierre-Marie Coulon1
1Université Côte d'Azur, CNRS-CRHEA, Rue Bernard Gregory, Valbonne 06560, France.
概括
四波横切线干扰仪准确地测量了来自元表面的轨道角动量 (OAM) 束. 潘查拉特纳姆-贝里相位元表面显示出比有效折射率更好的性能.
科学领域:
- 光学和光子学 在光学和光子学.
- 地表表面技术的技术.
- 量子信息科学 量子信息科学
背景情况:
- 具有轨道角动量 (OAM) 的光束的受控生成和表征对于先进的应用至关重要.
- 超表面是结构光的强大工具,但测量它们复杂的相位形状,特别是相位奇点,是具有挑战性的.
研究的目的:
- 应用四波侧切干扰仪 (QLSI) 来准确地映射由元表面产生的OAM光束的相位.
- 基于有效折射率 (ERI) 调制和Pancharatnam-Berry (PB) 阶段对OAM光束生成的元表面的性能进行比较.
主要方法:
- 采用四波侧切干扰仪 (QLSI) 作为定量相位成像技术.
- 获取了由元表面生成的OAM光束的空间分辨率相位图.
- 用ERI调制和PB相机制设计的经过评估的元表面.
主要成果:
- QLSI成功地重建了OAM光束的完美和不完美的单相形状.
- 与基于ERI的元表面相比,PB相元表面显示出更高的相位精度和更高的制造容忍度.
- QLSI被证明是一个可靠的工具来表征复杂的光学场和验证 metasurface性能.
结论:
- QLSI是一种强大的计量技术,用于表征结构光,特别是OAM光束.
- PB相元表面在结构光发电的性能和制造方面具有优势.
- 这项工作验证了QLSI作为下一代光子设备使用结构光的关键诊断工具.
关键词:
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