自参照光热通道干涉测量测量Si3N4膜的吸收激光光帆
Tanuj Kumar1, Demeng Feng1, Shenwei Yin1
1Department of Electrical and Computer Engineering, University of WisconsinMadison, Madison, Wisconsin 53706, United States.
概括
立体测量化 (Si3N4) 膜具有较低的光学损失,使其适用于激光光帆. 一种新的自参照光热通路干扰测量 (PCI) 技术验证了它们在高强度激光推进中的性能.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 光学是什么?光学是什么?光学是什么?
- 航空航天工程 航空航天工程
背景情况:
- 激光光帆代表了一种新的航天器推进概念.
- 石化化 (Si3N4) 是这些帆的潜在材料.
- 精确测量低光学吸收对于帆板材料的选择至关重要.
研究的目的:
- 为了研究化 (Si3N4) 膜的近红外吸收.
- 开发和验证一种自参照光热通路干扰测量 (PCI) 技术,用于测量低光损耗.
- 为了评估Si3N4作为激光帆材料的适用性.
主要方法:
- 开发了一种自我引用的光热通路干涉测量 (PCI) 方法.
- 在石墨烯沉积之前和之后测量Si3N4膜的光学吸收.
- 利用圆测量来量化由石墨烯诱导的吸收变化.
主要成果:
- 在1064 nm时测量Si3N4的吸收系数为 (1.5-3) × 10^-2 cm^-1.
- 确定Si3N4适用于高达~10 GW/m^2.4的激光强度.
- 发现富含的SiNx (x ~ 1) 的吸收率更高 (~8 cm^-1),使其不适合使用.
结论:
- 立体测量Si3N4是激光轻帆的一个有希望的低损耗材料.
- 开发的自引用PCI技术对于表征低损耗膜是有效的.
- 该技术可用于评估激光帆应用及其他领域的各种材料.


