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Ziming Pang1,2, Xiaochuan Gan2, Ming Kong1
1College of Metrology, Testing and Instrumentation, China Jiliang University, Hangzhou, China.
单元光谱分析 (SSA) 能够有效地分离表面粗度,为Ra和Rq等关键参数提供与高斯波器相似的结果. 这使得SSA成为表面计量应用的有希望的替代品.
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