IR Frequency Region: Fingerprint Region
IR Frequency Region: X–H Stretching
Lumber Defects
Computed Tomography
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Pengcheng Ji1, Zhenzhi He1, Weiwei Yang2
1School of Mechanical and Electrical Engineering, Jiangsu Normal University, Xuzhou 221116, China.
这项研究引入了改进的YOLOv10网络 (CTM-IYOLOv10) 用于半导体晶圆缺陷检测. 新方法提高了准确性和效率,大大改善了智能制造工艺.
科学领域:
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研究的目的:
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主要成果:
结论: