涂层等离子粒子的分析模型:形状和尺寸纠正的介电功能的影响

科学领域:

• 塑制剂是一种塑制剂.
• 计算电磁学的计算.
• 纳米光子学 纳米光子学

背景情况:

• 建立了模态扩展方法 (MEMs) 来预测等离子体粒子的光学特性.
• 调整尺寸的介电函数对不同等离子纳米结构的MEM精度的影响尚不清楚.

研究的目的:

• 在对各种等离子体粒子形状使用大小校正介电函数时评估MEM的准确性.
• 确定有关粒子几何学和介电性质的MEMs的局限性.

主要方法:

• 数字和分析灭绝和散射光谱的比较.
• 使用了批量和大小纠正的介电函数.
• 研究了各种粒子几何形状:棒,磁盘,镜,双圆形和双金字塔.

主要成果:

• 尺寸校正扩大并减少了等离子体峰值.
• 对于大多数形状 (棒,磁盘,镜,双金字塔) 的MEM准确性被保留,具有尺寸纠正的功能.
• 由于尖端的强烈场域定位,MEM对于尖端曲的逼真的双面圆形失败,但对于尖端曲的逼真的双面圆形表现良好.

结论:

• 对于大多数等离子纳米结构来说,MEM仍然是准确的,即使是经过大小校正的介电函数.
• 像双圆形这样的尖端几何形状对MEM构成挑战,需要具有尖端曲率的逼真的建模.
• 该研究验证了MEM用于实际的等离子纳米结构设计,强调了几何考虑的重要性.