使

Di Zhou1, Teruki Toya1,2, Hisashi Sugimoto3

  • 1Faculty of Frontier Engineering, Institute of Science and Engineering, Kanazawa University, Kanazawa 920-1192, Japan.

概括

一种新的扫频阻抗 (SFI) 方法使用短刺激和降噪来快速准确地检测中耳异常,如骨固定或分离,其性能优于传统的耳计.