Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Electron Microscope Tomography and Single-particle Reconstruction
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DongDong Chen1, JiaoFen Nan2, XiaoRui Wang1
1School of Electronics and Information, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China.
这项研究引入了一个新的框架,用于使用统计描述器重建多相多孔介质. 该方法在2D和3D重建中准确地捕捉了微观结构形态和连接性.
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主要成果:
结论: