DongDong Chen1, JiaoFen Nan2, XiaoRui Wang1

  • 1School of Electronics and Information, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou, China.

Journal of microscopy
|December 5, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一个新的框架,用于使用统计描述器重建多相多孔介质. 该方法在2D和3D重建中准确地捕捉了微观结构形态和连接性.