Sample Preparation for Analysis: Advanced Techniques
Sample Preparation for Analysis: Overview
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Updated: Jan 9, 2026

Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
Published on: September 13, 2020
Chuqi Shi1, Yanfang Pan1, Qin Yang1
1Institute of Materials Research, Tsinghua Shenzhen International Graduate School, Tsinghua University, Shenzhen, China.
适当的样本准备和参数优化对于使用飞行时间二次离子质谱法 (TOF-SIMS) 获得准确结果至关重要. 本指南详细介绍了可靠的表面分析和数据采集方法.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: