XFEL,X线

V Bouffetier1, M P Valdivia2, L Ceurvorst3

  • 1Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR), D-01328 Dresden, Germany.

PubMed
概括

研究人员使用X射线自由电子激光 (XFEL) 功能展示了暗场成像. 这一进步使材料科学和高能量密度物理学的新硬X射线成像应用成为可能.