加强的光系统使得无漂移的单分子定位显微镜能够实现
Hao Qiu1,2, Matthew C Tang1,3, Selene K Roberts1
1Central Laser Facility, Research Complex at Harwell, Rutherford Appleton Laboratory, Science and Technology Facilities Council, Didcot, UK.
加强的光系统可以消除显微镜中的机械漂移. 这种新的方法使得超高分辨率成像能够在没有后处理纠正的情况下实现,提高了精度和可访问性.
科学领域:
- 光学显微镜是一种光学显微镜.
- 纳米技术 纳米技术
- 机械工程 机械工程 机械工程
背景情况:
- 单分子定位显微镜 (SMLM) 提供纳米分辨率.
- 图像采集经常受到样本漂移的影响.
- 目前的漂移校正方法涉及复杂的后处理或信托标记.
研究的目的:
- 提出一种新的方法,在源头消除机械漂移.
- 为了提高超分辨率显微镜的稳定性和精度.
- 为高性能显微镜提供具有成本效益和可访问性的解决方案.
主要方法:
- 使用穿孔光机组件和钢棒的增强光系统的开发.
- 机械稳定性模拟以验证设计.
- 构建和测试一个采用强化光系统的长椅显微镜.
主要成果:
- 在定制制成的显微镜中显示出异常的三维稳定性.
- 在宽场光显微镜中,在2小时内达到大约5nm的平均累积横向漂移.
- 在单分子局部化显微镜中记录了11-16nm横向漂移超过15分钟,没有可测量的轴漂移.
结论:
- 加强的光系统有效地消除了机械漂移,这是SMLM的一个主要限制.
- 这项技术允许超分辨率显微镜在没有漂移校正的情况下实现其全部潜在分辨率.
- 该系统提供了一种简单,低维护和具有成本效益的解决方案,用于增强精确仪器仪表.
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