在基于束干扰的光刻系统中测量晶圆对齐度

Optics express
|December 19, 2025
PubMed
概括

这项研究引入了一种新的束干涉测量方法,用于半导体制造中的高精度晶圆对齐. 这种技术实现了极好的线性和可重复性,为石版系统提供了一个有前途的替代方案.