激光扫描暗场缺陷检查系统的光圈和照明优化,基于观察者独立的度量计

Optics express
|December 19, 2025
PubMed
概括

本研究提出了激光扫描暗场检查系统的新理论框架,通过减少表面粗的噪声来改善晶圆上100nm以下缺陷的检测.