Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Atomic Force Microscopy
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Sibi Chakravarthy Shanmugavel1, Shwetadwip Chowdhury1
1Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas at Austin.
一个新的成像系统使用了芯片上的传感器和计算阶段检索,以实现具有成本效益的,没有支持约束的大视野阶段成像. 这一突破为先进的成像应用提供了更简单的方法.
科学领域:
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主要成果:
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